光計測・分光分析システムアッセンブリ　株式会社ルシール

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システム概要

GaiaSorterシステムは、均質な光源、分光カメラ、サンプルステージを用いたコンピュータ制御によるサンプルの全自動ソーティングを行うハイパースペクトルイメージング装置です。

光源により照射されたサンプルからの発光光が分光カメラでスペクトル情報を持つ1次元画像が撮像されます。サンプルはステージによりスキャンされ、連続的にリアルタイムスペクトル画像を得る事が出来ます。

全スペクトル情報を持つデータはソフトウェアにより保存され、データ分析によりサンプルに含まれる水分や酸味等必要な情報を得る事が出来ます。

野菜や果物の成分分類、異物の分離情報、データのフォローアップ等サンプルの自動ソーティングを実現します。

高分解能s-SNOMイメージング

シングルラインレーザーやチューナブルレーザーに対応するシングルラインディテクションモジュールを用いて可視、赤外及びTHzという多様な波長での高分解能なs-SNOMイメージングが可能です。

ナノFT-IR

NeaSNOMのブロードバンドディテクションモジュールは、ブロードバンド光源により波数分解能6cm-1、オプションで最小3㎝-1という高分解能な分光計測を可能にします。可視、赤外、THｚに対応出来ます。

透過計測モード

NeaSNOMはサンプル透過計測に対応するオプションにより、0.5～20umの波長範囲でs-SNOMイメージングが可能です。サンプルへの照射スポットサイズは1.6～100umの範囲で可変です。

一目でNeaSNOMプラットフォーム仕様

ヘッドのプロービング	垂直方向に水平と60°で180°自由に光アクセス粗位置決め範囲X = 30ミリメートル、3ミリメートルY = Z = 4ミリメートルと電動ローダーアップ速度10mm / sにダウン100nmのステップサイズに
サンプルポジショナー	粗位置決め範囲を持つ電動式ローダー、X = 60ミリメートル、Y = 15ミリメートル、Z = 8ミリメートル、最大10mm / sで高速にダウンに100nmのステップサイズサンプルZ軸ファインポジショナー 3μmのz軸位置決め幅 <0.2nmをRMSノイズ·限られた解像度、1.5 -150Hzの
サンプルXYスキャナ	100μmのX100μmのXY閉ループスキャン範囲容量位置センサー
直立光学顕微鏡	余分な長作動距離：W = 20ミリメートル 0.8μmの解像度、ビューの0.7ミリメートルフィールド対角線の5 Mpixデジタルイメージングカメラ
光を当て＆コレクションユニット	特許を取得したブロードバンド放物面鏡のデザインが可視-テラヘルツ波長範囲はデュアルビーム操作サポート 2×45°（NA = 0.38）使用可能な光学的開口のX、Y、Z方向に≧8ミリメートル電動調整範囲
走査制御装置	任意の1D、2Dおよび3Dスキャンは、オフセットと回転 500kHzに共振周波数で最大カンチレバーのサポートを同時に4つの光信号の高調波までの復調最高入力信号周波数fc> 1MHzで-3dBに

アプリケーション

Details	Title	Short Description
	Analysis of semiconductor device structures	Semiconductor device structures can be characterized by near-field microscopy at suitable wavelengths.
	Identification of materials in semiconductor devices	Based on their unique near-field spectral signature infrared-active materials can be identified with NeaSNOM.
	Mapping local conductivity in semiconductor devices	Near-field microscopy at infared and terahertz frequencies allows to quantify free carrier properties at the nanoscale without the need of electrical contacts.
	Spectroscopic indentification of materials	NeaSNOM enables spectroscopic identification of materials at the nanometer scale.
	Characterization of polymer blends	Near-field images of a polymer blend made of Polystyrene (PS) and Poly (methyl methacrylate) (PMMA) reveal the nanostructured phase separation of the materials.
	Studying single viruses	Recording “fingerprint” spectra of single viruses and polymer nanobeads allows for identification of individual particles.
	Investigating local conductivity of semiconductor nanowires	The local conductivity of nanowires can be investigated by infrared near-field microscopy.
	Identification of individual nanoparticles	Near-field imaging allows to distinguish individual nanoparticles of only 7nm in diameter.
	Structural analysis of IR-active materials	Structural modifications of infrared-active materials can be detected and spatially mapped by near-field imaging at the appropriate frequencies.
>	Non-invasive imaging of stress/strain fields	Mapping nanoscale stress/strain fields around nanoindents in the surface of Silicon Carbide (SiC) crystals. Compressive/tensile strain occurs in bright/dark contrast respectively.
	Nanoscale phase transitions	The high spatial resolution of infrared near-field microscopy allows for detailed studies of phase transitions in materials like the insulator-to-metal transition of vanadium dioxide (VO2) thin films.
	Imaging optical gap fields	Highly confined optical fields (“hot spots”) can be detected in the gap between nanoparticles.
	Analyzing optical antennas	Amplitude and phase resolved near-field mapping of the local field distribution on resonant IR antennas can be used to analyze the antenna design and its functionality.
	IR nanofocusing on transmission lines	Direct visualization of infrared light transportation and nanofocusing by miniature transmission lines is possible by amplitude- and phase-resolved near-field microscopy.
	Mapping optical fields of resonant particles	Near-field imaging of resonant gold nanodiscs reveals a dipolar oscillation mode.
	Studying superlensing and meta-materials	Direct verification of superlensing can be achieved by near-field microscopy as the local field transmitted by a superlens can be investigated in the near-field of the lens.
	Characterization of optical surface waves	Amplitude and phase resolved studies of surface wave (propagating surface phonon polaritons) propagation and interference.
	Near-field spectroscopy with broadband laser sources	Neaspec introduces a broadband near-field infrared spectroscopy technique using fs-pulsed laser sources for tip illumination. Continous spectra can be recorded within only few seconds.
	Nano-FTIR near-field spectroscopy	The NeaSNOM system allows for recording infrared spectra with a thermal source at a resolution that is 100 times better than in conventional infrared spectroscopy.